美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本，本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合，为用户提供完整解决方案。功能增强的脉冲发生器插卡和新型的示波器插卡，为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级版本不仅增强了吉时利4200-PIV工具包功能，还提供两种新版应用解决方案，将4200-SCS通用直流与脉冲测量功能进一步扩展到新领域，例如Flash存储器测试、高功率射频器件测试以及先进半导体材料的脉冲测试等。

功能增强的测试硬件

吉时利（Keithley）新型解决方案增强原有的硬件性能， 其采用的新型脉冲发生器插卡4205-PG2具备多种新功能，例如已申请技术专利的Segment ARBTM模式，帮助用户通过简单线段即能轻松产生复杂波形。Segment ARB功能能够产生基本的脉冲调制技术所无法产生的复杂波形。该功能非常适于Flash存储器测试，其中需要一些复杂的码型用于存储单元特征分析和寿命测试。4205-PG2还集成一个任意波形发生器，即ARB模式，且具有一内置高耐用型输出继电器，寿命几乎无限长。利用该继电器可轻易控制和代替Flash测试中的外置继电器，缩短耐久性测试时间。

此外，新增电源扩展4200-SCS系统所允许的配置方案：一个4200-SCS机架最多实现支持四个独立脉冲发生器卡。由于每个4200-PG2具有两个通道，因此4200-SCS系统每个机架最多可支持8个脉冲通道。同时，集成的4205-PG2为外部触发源提供一个触发输入信号，因此每个机架内的多个脉冲卡实现在10纳秒内完成同步。

应对前沿技术挑战的应用解决方案

吉时利（Keithley）本次发布的应用解决方案建立在功能增强的4205-PG2脉冲发生器卡和新版应用软件基础之上。4200-PIV-Q工具包针对由III-V族半导体材料和LDMOS工艺制成的射频器件和高功率FET进行脉冲I-V测试和信号分析而特别设计。4200-PIV-Q工具简单易用，非常灵活，具有±38V电压、800mA电流和30W功率的脉冲功能，这些参数设计完全满足高功率应用需求。4200-PIV-Q主要特征是支持脉冲宽度从500ns到直流的静点（即Q点）测试（能够从非零空闲状态产生脉冲）。

新增应用解决方案——4200-FLASH工具包为功能强大的黑盒式Flash存储器测试解决方案，实现针对Flash存储器的三种最重要测试：特征分析、耐久性测试和干扰测试。该应用工具包自动实现直流测试和脉冲测试的切换，无需外部开关。其内置高耐久性输出继电器，摒弃大多数Flash测试采用的外部固态继电器，从而加快Flash存储器的寿命测试，提高测试效率和易用性。此外，4200-FLASH工具包内提供的专用代码和项目简化Flash存储器测试的配置和启动过程。

新增的4200-PIV-A工具包，为吉时利（Keithley）现有获奖工具包4200-PIV的增强版，专门针对前沿的CMOS器件特征分析而量身定制，其增强功能包括改进的低至100nA的低电流分辨率、结合了脉冲测试与直流测试的友好操作界面和直观的图形界面。

连续的软件升级

KTEI（Keithley Test Environment Interactive，吉时利交互式测试环境）的最新版本V6.2版增强多种软件功能， 包括采用以太网连接，远程调用脉冲发生器和示波硬件，在UTM（User Test Module，用户测试模块）中远程控制板级测试，这些新功能改进了原来通过外部PC控制4200-SCS的方式。此外，另一项新功能允许用户在多种常规应用中通过友好的GUI界面与单个的UTM进行交互，包括一个开关矩阵控制器和PIV测试。KTEI V6.2版还可作为独立软件工具包安装在用户PC机，用于离线测试生成和测试后期数据分析。现有客户能够很方便地升级到新版应用解决方案，保护投资，减少固定设备建设费用，从而降低测试总成本

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